基于光学测量的大型天线测试方法研究

摘要：

【摘要】提出了一种基于光学照相的电磁场数值计算测试电大尺寸天线辐射特性的新方法.根据光学照相实测大型天线的形面三维坐标计算出天线表面电流分布,利用物理光学计算得到天线远场方向图和增益.采用该方法得到的海洋二号校正辐射计观测天线和充气天线的辐射特性与平面近场测试结果的对比验证了其具有足够的准确性.该方法具有快速、灵活的特点,可以推广到电大尺寸天线测试.
【关键词】光学照相；电大尺寸天线；平面近场测试；

引言：

【引言】随着观测分辨率的不断提高, 现代微波遥感器天线尺寸越来越大, 对于口径在几十甚至数百个波长以上天线的需求越来越多, 例如美国奋进号航天飞机发射的充气可展开天线口径达到14 m (L 波段); 欧空局发射的普朗克!赫青黎太赫兹探测仪口径达到数百波长, 此时, 传统的天线远场测试! 紧缩场测试乃至近场测试往往不能满足测试要求. 一般远场测试需要极远的距离才能达到远场条件, 并且远场测试不满足电大尺寸天线测试必需的大静区要求;同样, 静区的原因使得紧缩场方法也难以完成大天线辐射性能测试. 随着频率的提高, 要求主反射面口径极大, 形面精度很高, 而平面近场测试扫描架目前也只能达到几十米, 测试时间较长.

作者：

王宏建；郝齐焱；易敏；陈雪；刘广

作者单位：

中国科学院空间科学与应用研究中心；中国科学院微波遥感技术重点实验室；